METHODS OF INCREASING THE RADIATION DURABILITY OF SYSTEMS ON CRYSTAL FOR SMALL SPACECRAFTS
Abstract
This article discusses the basic methods of creating integrated circuits with high radiation resistance. The factors of radiation effects of outer space and their characteristic effects on the elements of the spacecraft electronic equipment are listed. Various approaches to increasing the reliability of integrated circuits resistant to ionizing radiation are considered. Various architectures of the construction of radiation-resistant processor channels in the “systems on crystals” (SoC) are shown.
About the Authors
G. AyazbayevKazakhstan
A. Lozbin
Kazakhstan
A. Inchin
Kazakhstan
References
1. Богатырев Ю., Шведов С. Радиационно стойкие интегральные схемы // Наука и Инновации. 2012. - № 3.
2. Телец Б., Цыбин С., Быстрицкий А., Подъяпольский С. ПЛИС для космических применений. Архитектурные и схемотехнические особенности // Электроника: НТБ. 2005. - № 6.
3. Юдинцев В. Радиационно-стойкие интегральные схемы. Надежность в космосе и на земле // Электроник: НТБ. 2007. - № 5.
4. Леонтьев А. В Проблемы применимости многоканальных вычислительных структур для систем управления космическими аппаратами // Международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых «Информационные технологии, телекоммуникации и системы управления»: сборник докладов. - Екатеринбург: [УрФУ], 2015. - С. 159-165.
5. Сабуров В. А. Способы повышения радиационной стойкости интегральных микросхем к эффекту SEU на различных этапах создания // Актуальные проблемы гуманитарных и естественных наук. 2016. - № 1.
6. Полесский С., Жаднов В., Артюхова М., Прохоров В. Обеспечение радиационной стойкости аппаратуры космических аппаратов при проектировании // Компоненты и Технологии. 2010. - № 9.
7. Попович А. Топологическая норма и радиационная стойкость // Компоненты и Технологии. 2010. - № 9.
Review
For citations:
Ayazbayev G., Lozbin A., Inchin A. METHODS OF INCREASING THE RADIATION DURABILITY OF SYSTEMS ON CRYSTAL FOR SMALL SPACECRAFTS. Herald of the Kazakh-British technical university. 2019;16(3):83-87. (In Russ.)