инженер, магистрант
д.ф.-м.н., профессор, ГНС
д.ф.-м.н., профессор, ГНС
В данной работе с помощью программы “lumerical FTDT” осуществлены симуляции для определения оптимальных толщин слоев в антиотражающих покрытиях SiC/MgF2, осажденных на полированный кремний. Двуслойная структура SiC(60 nm) + MgF2(110 nm) показала наименьшее отражение (< 0,5%) в интервале длин волн 500-800 нм. Однако анализ величин поглощения света и плотности тока короткого замыкания кремниевого солнечного элемента показывает, что среди рассмотренных антиотражающих покрытий SiC/MgF2 наиболее эффективным является двухслойная структура SiC(50 nm) + MgF2(110 nm). Это обусловлено низким отражением в области 317-485 нм и увеличением плотности тока солнечного элемента до 179,0 А/м2.
In this paper, using the “lumerical FTDT” software, simulations have been carried out to determine the optimal layer thicknesses in antireflection SiC/MgF2 coatings deposited on polished silicon. The double layer structure SiC(60 nm) + MgF2(110 nm) showed the lowest reflection (<0.5%) in the wavelength range from 500 to 800 nm. However, an analysis of the light absorption and short-circuit current density of a silicon solar cell shows that among the considered antireflection SiC/MgF2 coatings, the most effective is the double layer structure SiC(50 nm) + MgF2(110 nm). This is due to the low reflection in the region of 317-485 nm and the increase of the solar cell current density up to 179.0 A/m2.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.